產(chǎn)品名稱：JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡（SEM）IT100
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2023-08-28
產(chǎn)品特點(diǎn)：JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡（SEM）IT100的測(cè)試范圍：各種固體材料的形貌分析、微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)，樣品成份的線分布和面分布分析.
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100
一:測(cè)試范圍：
各種固體材料的形貌分析
微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)
樣品成份的線分布和面分布分析.
二:表面分析有哪些:
1. 表面形貌分析
2. 表面成分分析
3. 表面化學(xué)狀態(tài)分析
4. 表面顏色、色差測(cè)試
5. 表面相結(jié)構(gòu)分析
6. 表面應(yīng)力分析
7. 表面粗糙度測(cè)試
8. 表面異物分析
9. 表面失效分析
10.表面處理工藝判斷
三:表面異物分析:
在生產(chǎn)中,表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，形成其他異物，一般很難用肉眼分辨，更無(wú)法了解其成分與來(lái)源，必須通過(guò)顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數(shù)從10倍-20萬(wàn)倍的掃描電子顯微鏡和對(duì)固體樣品元素價(jià)態(tài)分析的X射線光電子能譜，可以分別對(duì)不同現(xiàn)象和類別的異物進(jìn)行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度，對(duì)材料微觀形貌進(jìn)行直接觀測(cè)，同時(shí)對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行X射線能譜測(cè)試，分析其成分組成，X射線光電子能譜能夠?qū)腆w樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)果鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定等。
四:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100?分析儀優(yōu)點(diǎn):
①有較高的放大倍數(shù)，幾萬(wàn)~幾十萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；
②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；
③試樣制備簡(jiǎn)單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。
五:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100核心參數(shù):
背散射電子圖像分辨率 4nm
二次電子圖象分辨率 3nm@30KV
加速電壓 0.5-30kV
放大倍數(shù) 5-300000
儀器種類 鎢燈絲
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