島津 EDX?7000 珠寶行業(yè)完整應(yīng)用方案

一、珠寶領(lǐng)域核心檢測對象

1. 貴金屬首飾成色定量（最主要應(yīng)用）

• 黃金系列：足金、22K、18K、14K、9K 金；檢測 Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd 配比，判定 K 金成色

• 鉑金 / 鈀金：Pt999、Pt950、Pt900、Pd990、Pd950；區(qū)分鉑、鈀、銠、銥雜質(zhì)

• 銀飾：足銀、925 銀、835 銀；識別鍍銀、白銅仿銀

• 原料：金條、銀料、貴金屬回收料、首飾加工邊角料

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• 典型測試時長：30～180 s / 件；支持直接測量成品戒指、項鏈、吊墜（寶石無需取下）

2. 鍍層首飾專項檢測（島津優(yōu)勢）

3. 仿品與造假快速篩查

• 區(qū)分：實心貴金屬 vs 鍍金、包金、金包銅、金包鎢（表層檢測篩查，?無法穿透厚夾層，僅作初篩）

• 辨別：白銅 / 不銹鋼仿 925 銀、鎢合金仿鉑金

• 重要提示：EDX 屬于表面淺層分析，無法直接判定內(nèi)部夾層，可疑樣品需結(jié)合密度法、火試金等進一步驗證。

4. 首飾有害元素管控（合規(guī)檢測）

5. 輔助寶石相關(guān)應(yīng)用（定性篩查）

• 鉛玻璃仿鉆（檢出高鉛）、充填處理寶石元素篩查

• 天然 / 合成寶石微量元素對比

  ? 局限：不能獨立完成寶石定名；寶石鑒定仍需顯微鏡、紅外、UV?Vis 聯(lián)用。

二、適配珠寶行業(yè)的硬件關(guān)鍵特性

1. SDD 電制冷探測器，能量分辨率優(yōu)異，輕重貴金屬元素分離度好

2. 多尺寸準直器（1/3/5/10 mm 自動切換）

• 1 mm 微區(qū)：適合戒爪、細小鑲口、局部焊點小區(qū)域精準測量，避開周邊鑲嵌石干擾

3. 內(nèi)置 CMOS 觀測相機：精準定位首飾待測點位

4. Rh 靶 X 射線光管，5 檔自動濾光片切換，優(yōu)化貴金屬激發(fā)效率

5. 元素范圍：Na～U；含量范圍 ppm～100%

6. 樣品腔尺寸：容納絕大多數(shù)常規(guī)首飾，異形吊墜、手鐲均可直接放入

三、珠寶行業(yè)典型工作場景

場景 1｜首飾加工廠來料 / 成品質(zhì)控

• K 金合金熔煉配比在線抽檢

• 成品出廠成色核驗、鍍銠層厚度監(jiān)控

• 不良品變色腐蝕失效分析（鍍層成分、基材雜質(zhì)溯源）

場景 2｜珠寶質(zhì)檢實驗室初篩

大批量樣品快速預(yù)檢；初篩陽性樣品再送火試金仲裁（GB/T 18043）。

標(biāo)準關(guān)系：ED?XRF 為無損篩查方法；貴金屬仲裁方法為火試金法。

場景 3｜典當(dāng)行、貴金屬回收

場景 4｜品牌品控與市場打假

四、珠寶檢測固有局限性（實操重點）

1. 探測深度淺（微米級），僅分析表面

   不能識別厚夾層造假（金包鎢、金包銀），僅能篩查表層；遇到高價值可疑樣品必須輔以密度、鉆孔或火試金。

2. 表面鍍層干擾

   無鍍層修正模式時，鍍銠 18K 金測量結(jié)果會明顯失真，必須啟用島津多層薄膜分析程序。

3. 拋光 / 污垢影響

   表面油污、氧化皮、污漬會帶來誤差，測量前建議清潔待測點位。

4. 不能區(qū)分同位素，無法直接判斷是否摻銥、釕等重稀土（微量摻假很難單層 XRF 檢出）

五、推薦珠寶檢測測量方法設(shè)置

1. 模式：FP 基礎(chǔ)參數(shù)法 + 多層鍍層修正模型（Au?Rh 雙層模型）

2. 優(yōu)先選用 1 mm 準直器 測量戒托、細小鑲位

3. 測試時間：貴金屬常規(guī) 120～180 s，提升重復(fù)性

4. 日常校準：配套島津貴金屬標(biāo)準樣品定期漂移校正

六、同系列橫向?qū)Ρ葏⒖?/span>

• EDX?7000：工廠、典當(dāng)、中小型質(zhì)檢性價比優(yōu)選；Na 起測，滿足貴金屬主流需求

• EDX?8100：可選真空、測碳，更適合礦物、寶石深度微量元素研究，預(yù)算更高